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扫描测头
扫描测头是微型测量仪器，每秒能够采集几百个表面点，可以测量形状、尺寸和位置。 [7 kB] SP25M
结构轻巧的模块化扫描测头，适合用于机动可重复定位测座 [11 kB] 拉曼光谱应用
Raman光谱已经成功应用于各种材料和系统的分析。Renishaw以各种创新技术开创拉曼应用的前沿领域，例如屡获大奖的紫外微型拉曼光谱仪以及组合式拉曼/扫描测头显微镜系统。 [8 kB] 控制器
Renishaw公司的UCC控制器系列优化了坐标测量机与测头之间的接口，进一步提高了测量效率和精度。这些灵活的控制器具备先进的触发和扫描运算功能，工件测量速度快、精度高、适应性强，对坐标测量机的生产和改造都十分理想。 [9 kB]
白皮书：核心要素 — 坐标测量机用测针选型指南
当需要确定在坐标测量机 (CMM) 上测量工件的最佳方法时，许多选择是默认的，因为它们之前已经过多次深思熟虑。坐标测量机的精度指标、使用的最佳传感器类型（触发或扫描）以及最优测量方法经常被想当然地认为是正确的，不再受到质疑。然而，精确测量的这一基础可能因为选择了不合适的测针而受到破坏，结果影响了测量精度。 [312 kB] 技术规格 - 测针及附件
若想实现高精度测量，一定要选择品质优异的Renishaw测针。立即行动! H-1000-3207-12-A [6.90 MB]
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